性能優(yōu)勢(shì)：
1. 微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.0085mm2
2. 變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm
3. 核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測(cè)，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量
4. 先進(jìn)的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
5. 高性能探測(cè)器：SDD硅漂移窗口面積50mm2探測(cè)器
6. X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置
7. 上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)對(duì)超大樣品或者密集點(diǎn)位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量
8. 大行程移動(dòng)平臺(tái)：手動(dòng)XY滑臺(tái)100*150mm，自動(dòng)XY平臺(tái)200*200mm
應(yīng)用領(lǐng)域：涂鍍層分析-RoHS檢測(cè)-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測(cè)
一六儀器研制的測(cè)厚儀獨(dú)特的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達(dá)到視覺與測(cè)試定位一體，且X光擴(kuò)散度小；與EFP軟件配合達(dá)到對(duì)焦、變焦雙焦功能，實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測(cè)試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時(shí)特征X射線可以穿透測(cè)試更厚的表層
  結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：
    研制的測(cè)厚儀獨(dú)特的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達(dá)到視覺與測(cè)試定位一體，且X光擴(kuò)散度極小；與EFP軟件配合達(dá)到對(duì)焦、變焦雙焦功能，實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測(cè)試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時(shí)特征X射線可以穿透測(cè)試更厚的表層。
    獨(dú)創(chuàng)EFP算法：
采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數(shù)法，基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線的熒光強(qiáng)度，在基于此計(jì)算Lachance綜合校正系數(shù)，然后使用這些理論a系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)。
    只需少數(shù)標(biāo)樣來校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬以及有機(jī)物層。