PLM-100系列是由蘇州千宇光學(xué)科技有限公司精心設(shè)計(jì)研發(fā)及生產(chǎn)的一款高精度相位差軸角度測(cè)量?jī)x。該設(shè)備可解析多層相位差，是對(duì)吸收軸角度、快慢軸角度、相位差、偏光度、色度及透過(guò)率等進(jìn)行高精密測(cè)量；是結(jié)合偏光解析和一般光學(xué)特性分析于一體的設(shè)備；并提供不同型號(hào)，供客戶(hù)進(jìn)行選配。

相位差R0/Rth測(cè)量差：可以測(cè)試0-20000nm的相位差范圍； 可實(shí)現(xiàn)超低相位差測(cè)試，可解析Re為1納米以?xún)?nèi)基膜的殘留相位差； 高相位差測(cè)試，可對(duì)離型膜、保護(hù)膜等高相位差樣品進(jìn)行檢測(cè)。

吸收軸角度:采用標(biāo)準(zhǔn)片定標(biāo)，可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

慢軸、快軸角度：快軸（慢軸）與基準(zhǔn)邊的夾角   

波長(zhǎng)分散性測(cè)試 ：有效評(píng)估雙折射材料特性      

 偏光度、色度、透過(guò)率 優(yōu)勢(shì)：搭載高感度/低噪聲光譜儀，可以兼容測(cè)試偏光片等光學(xué)膜的一般光學(xué)特性     

我們追求信賴(lài)性（國(guó)產(chǎn)替代），打破進(jìn)口設(shè)備在光學(xué)膜、雙折射材料行業(yè)中相位差測(cè)量的20多年壟斷 。該設(shè)備已通過(guò)中國(guó)計(jì)量用標(biāo)準(zhǔn)片數(shù)據(jù)匹配，傅里葉變換解析偏振光，數(shù)據(jù)可靠穩(wěn)定。可溯源性：可提供計(jì)量檢測(cè)報(bào)告。性可靠，由光學(xué)博士團(tuán)隊(duì)合力研發(fā)，追求國(guó)產(chǎn)替代。精心打造的每一臺(tái)設(shè)備出貨前都會(huì)用國(guó)家計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行檢驗(yàn)。