HAST高加速應力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

HAST高加速應力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

HAST高加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

HAST高加速應力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備，其目的是提高環(huán)境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。