斯坦福/STANFORD鎖相放大器SR830

SR830 顯示信號的幅度和相位，使用數字信號處理 (DSP) 來代替傳統鎖相中的解調器、輸出濾波器和放大器。

美國斯坦福SRS SR830 鎖相放大器產品特點：

. 1 mHz 至 102.4 kHz 范圍

. >100 dB 動態儲備

. 5 ppm/°C 穩定性

. 0.01 度相位分辨率

. 時間常數從 10 μs 到 3 ks

. (高達 24 dB/oct 滾降)

. 自動增益、-相位、-reserve & -offset

. 參考來源

. GPIB 和 RS-232 接口。

美國斯坦福SRS SR830 鎖相放大器產品簡介：

SR830鎖相放大器以合理的成本提供高性能。SR830 同時顯示信號的幅度和相位。工作范圍為 1 mHz 至 102 kHz，無漂移動態儲備為 100 dB。

. 輸入通道

SR830 鎖相放大器具有差分輸入，輸入噪聲為6 nV/√Hz。輸入阻抗為 10 MΩ，zui小滿量程輸入電壓靈敏度為 2 nV。

輸入還可以配置為電流測量，可選擇電流增益為 10 6和 10 8 V/A。提供了一個線路濾波器(50 Hz 或 60 Hz)和一個 2× 線路濾波器(100 Hz 或 120 Hz)以消除與線路相關的干擾。

與傳統的鎖相放大器不同，輸入端不需要gen蹤帶通濾波器。傳統鎖相使用此過濾器來增加動態儲備。帶通濾波器還會引入噪聲、幅度和相位誤差以及漂移。

這些鎖相的基于 DSP 的設計具有如此大的固有動態儲備，因此不需要gen蹤帶通濾波器。

. 擴展動態儲備

在給定的滿量程輸入電壓下，鎖相放大器的動態儲備是zui大干擾信號與滿量程輸入電壓的比率(以 dB 為單位)。

干擾信號的定義是，在鎖相功能無法以精度測量信號之前，可應用于輸入的任何頻率下的zui大信號幅度。

傳統的鎖相放大器使用模擬解調器將輸入信號與參考信號混合。動態儲備被限制在大約 60 dB，并且這些儀器存在穩定性差、輸出漂移以及增益和相位誤差過大的問題。

SR830鎖相放大器中的解調是通過高精度 A/D 轉換器對輸入信號進行采樣，并將數字化輸入乘以合成參考信號來完成的。

這種數字解調技術產生超過 100 dB 的真實動態儲備(無預濾波)，并且沒有與模擬儀器相關的錯誤。

. 數字濾波

數字信號處理器還處理輸出濾波任務，允許時間常數從 10 微秒到 30,000 秒，可選擇 6、12、18 和 24 dB/oct 滾降。

對于低頻測量(低于 200 Hz)，可以使用同步濾波器來濾除參考頻率的倍數。由于參考的諧波已被消除(特別是 2F)，因此可以用更短的時間常數實現有效的輸出濾波。

. 數字相移

模擬移相電路也已被 DSP 計算所取代。相位以 0.01° 分辨率測量，X 和 Y 輸出與 0.001° 正交。

. 頻率合成器

內置的直接數字合成 (DDS) 源生成ji低失真 (-80 dBc) 的參考信號。可以生成 1 mHz 至 102 kHz 的單頻正弦波，分辨率為 4? 位。

頻率和幅度都可以通過前面板或計算機進行設置。當使用外部參考時，合成源被鎖相到參考信號。

. 自動功能

自動功能允許頻繁調整的參數由儀器自動設置。只需按一下按鍵，即可快速優化增益、相位、偏移和動態儲備。

在檢查測量中的小波動時，偏移和擴展功能非常有用。輸入信號通過自動偏移功能快速歸零，并通過將相對值擴展至 100 倍來提高分辨率。

諧波檢測不再限于 2F 分量。現在可以在不改變參考頻率的情況下測量高達 102 kHz 的任何諧波(2F、3F、... nF)。

. 模擬輸入和輸出

兩種儀器都有一個用戶定義的輸出，用于測量 X、R、X 噪聲、Aux 1、Aux 2 或輸入信號與外部電壓的比率。

SR830 具有用戶定義的輸出，用于測量 Y、θ、Y 噪聲、Aux 3、Aux 4 或比率。 SR830 有 X 和 Y 模擬輸出(后面板)，更新頻率為 256 kHz。

提供四個輔助輸入(16 位 ADC)用于通用用途，例如將輸入歸一化為源強度波動。四個可編程輸出(16 位 DAC)提供 -10.5 V 至 +10.5 V 的電壓，并可通過前面板或計算機接口進行設置。

. 內部存儲器

SR830 有兩個 16,000 點緩沖器，可同時記錄兩個測量值。使用計算機接口從緩沖區傳輸數據。還提供觸發輸入以從外部同步數據記錄。

. 操作簡單

SR830鎖相放大器易于使用。所有儀器功能均通過前面板鍵盤進行設置，并提供旋鈕以快速調整參數。

多達九種不同的儀器配置可以存儲在非易失性 RAM 中，以便快速輕松地設置儀器。標準 RS-232和 GPIB (IEEE-488.2)接口允許與計算機進行通信。所有功能都可以通過接口進行控制和讀取。

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）

回收類別：

網絡分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、示波器、信號發生器、信號分析儀、色彩分析儀、數字通訊測試儀、高頻信號源、頻率計、功率計、音頻分析儀、電源、數字源表、天饋線測試儀、光譜分析儀、噪聲系數分析儀、數字萬用表、靜電計/高阻表、函數信號發生器、LCR測試儀、電子負載、納伏表/皮安表、多用表校準儀、廣播電視測試儀、高壓機/耐壓測試儀、NI機箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數據采集器、邏輯分析儀、晶體管測試儀、調制度分析儀、藍牙測試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測量系統、阻抗測試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環保檢測儀、耦合板等等。