二手 LCR測試儀IM3536

4Hz~8MHz測量頻率
● 測量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測量時間：最快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量
● 可內部發生DC偏壓測量
● 從研發到生產線活躍在各種領域中
主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。

LCR測試儀IM3536的特點

1. 
   測量頻率4Hz~8MHz，精度保證范圍1mΩ和測量范圍擴大
   以往產品（3532-50）的測量帶寬為42Hz~5Mhz，而IM3536的帶寬擴大到了4Hz~8MHz。因此，可以測量用于各種領域中的電子元件的特性。特別是，zui高頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測量。
   而且，精度保證范圍比起以往產品10mΩ以上，IM3536的精度保證為1mΩ以上，因此也適用于有低頻化要求的電容等的測量。

2. 和以往產品相比，實現高速、高精度測量
   IM3536和以往產品相比改善了測量時間和基本精度。
   比起以往產品的測量時間為5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），測量速度提高了4倍。因此，用于電子元件的產線中時，有助于提高產量。
   而且，相對于以往產品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536為0.05%，因此適用于有高精度要求的電子元件。

3. 連續測量功能，1臺即可完成不同條件的檢查
   在電子元件的評估中，有時會需要對1個電子元件需要按照不同條件和項目來測量。以往產品因為測量條件的切換時間和測量時間較慢，所以這類多種條件檢查會需要多臺測量儀器。
   IM3536的測量條件的切換和測量實現了高速化，而且IM3536具備連續測量功能（不同測量項目連續測量的功能），因此1臺IM3536就可以完成以前多臺測量儀器才能完成的測量。 這樣，可以簡化產線中所用自動檢查機的結構，從而實現低價化。

4. 具備提高檢查品質的接觸檢查功能
   檢查時，發生測試探頭的斷線、和被測物的接觸不良時，可能存在測量誤差變大等影響測量值準確性的現象。為了防止此類事情，標配了能夠知道測試探頭斷線和接觸不良的接觸檢查功能。由此有助于提高檢查的品質。

5. 

基本參數
測量模式LCR（單一條件下測量），連續測量（保存條件下連續測量）測量參數Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε測量量程100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規定）顯示范圍Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）測量頻率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)測量信號電平[V模式, CV模式]的[通常模式]4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA)1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA)[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V)[CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V)[直流電阻測量]: 1 V固定DC偏壓發生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)輸出阻抗通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω顯示彩色TFT5.7英寸，觸摸屏功能比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能接口EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出電源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max體積及重量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg附件電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1