Agilent 安捷倫8720C矢量網絡分析儀發完

8720C矢量網絡分析儀簡單介紹
頻率范圍：50MHz到20GHz有快速掃描的內置合成信號源集成化的轉換S參數測試裝置矢量接收機、誤差修正、時域功能從外部磁盤驅動器直接儲存/調用達103dB動態范圍

20GHz網絡分析儀的詳細介紹
Agilent8720C網絡分析儀
Agilent8720C矢量網絡分析儀表征頻率范圍從50MHz到20GHz內的RF/微波元件特性。Agilent8720C網絡分析儀包括一個快速掃頻源、S參數測試裝置、調諧接收機和大的彩色顯示。這種集成化設計使得Agilent8720C小型、經濟和方便使用。Agilent8720C對于研究開發、生產制造、產品入庫檢驗或質量保證機構中有成本和時間意識的工程師來說，是一理想的選擇。

性能優良且價格合理的分析儀

Agilent8720C網絡分析儀除價格能被接受外，其性能亦引人注目。集成信號源是全合成化的信號源，即使在掃描時，其穩定度和精度也處在10ppm范圍(典型值)。另外，掃描速度極快。典型情況下，測量的更新時間約為每個測量點1ms，頻率分辨率標準為100kHz，選件001提供1Hz的分辨率，對窄帶或長延遲器件提供的測量。具有可變帶寬IF濾波器的調諧接收機提供達103dB的動態范圍。內置轉換測試裝置用一次連接即可測量有4個S參數(正向和反向)。
兩個獨立的通道可同時顯示兩種測量結果，如反射和傳輸響應。接收機對幅度和相位兩者進行檢測，并以多種實用的格式顯示測量結果，包括在直角坐標、極坐標或史密斯圓圖上顯示群延遲、與線性相位的偏離、復阻抗和SWR。
內置的矢量精度增強措施對有通用同軸連接器提供優良的誤差修正精度。用戶配件能提供由用戶定義的標準件，允許進行波導校準(包括色散效應)。從簡單響應標準到全雙端誤差修正中選擇。或者使用TRL來測量夾具上的非同軸器件(微帶)。

測量有源器件的強有力的功能

Agilent8720C在其測量端口上有+10dBm的功率，有足夠的功率用于對放大器進行測試。對于一些靈敏的小信號器件，內置步進衰減器可以將功率減小到-65dBm。利用功率計的校準功能，功率電平可以在系統的任何地方進行調節。功率掃描功能和0.1dB的功率分辨率簡化了對有源器件的增益-壓縮特性的測試。此外，有2個內部的T型通過測試端口用于偏置晶體管。

分析安裝在夾具中和晶片上的器件特性
利用TRL*校準將夾具誤差減至小，以便對非同軸器件(如微帶)進行測量。也可以將網絡分析儀與晶片探測臺相結合，以便能在晶片上直接測量器件。電子端口延伸和選通也可用來提高精度。

時域和故障定wei
用時域功能（選件010）對被測件（DUT）的響應隨時間或距離（而不是頻率）的變化進行計算和顯示。還可利用時域來查找并定量表示一個網絡中個別故障或不連續點的位置。應用選通功能來消除不希望的反射的影響（及時分離），然后觀察DUT的真實響應隨頻率變化的情況。
8720C主要技術指標
具有可選1 Hz頻率分辨率的快速掃描內置合成信號源
開關綜合測試儀通過單一連接測量全部四個S參數
提高矢量精度
可選時域功能能夠計算并顯示響應隨時間或距離的變化
可選固態開關支持同時測量正向和逆向參數，并根據兩部分誤差修正的需要持續更新全部四個S參數
合格/不合格測試、打印機/繪圖儀直接輸出結果、高級標記功能以及保存/調用測試配置等特性可顯著提高生產效率
兩個獨立的顯示通道，用于同時測量反射和發射特征

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）

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