澤攸臺階儀是一款高性能的表面形貌檢測設備，其核心工作原理是利用一個尖銳的探針在樣品表面進行掃描，然后根據探針在垂直（Z）方向上的位移變化，配合精確的橫向掃描與位置控制，最終重建出樣品表面的三維形狀。

澤攸臺階儀具有高精度、高分辨率、高穩定性和高靈活性等特點。其采用了大行程超精密平面掃描技術，能夠實現70mm的掃描范圍，優于20nm/2mm的精度。同時，配備了兩個彩色攝像頭，能夠無畸變地觀察樣品區和針尖區，實時顯示掃描過程。此外，澤攸臺階儀還采用了一體花崗巖結構，提供了穩定可靠的重復性測量，并采用了大帶寬大行程納米微動臺和超微壓力恒定控制技術，能夠實現80um的位移范圍，10kHZ的響應頻率，0.5mN-15mN的壓力控制。

澤攸臺階儀在半導體行業有著廣泛的應用，可以用于制程優化與控制、薄膜材料表征與質量控制等方面。通過精確測量臺階高度、線粗糙度、薄膜曲率半徑等參數，能夠迅速響應工藝條件的變化，幫助制造商優化制程，提高產品的穩定性和一致性。同時，澤攸臺階儀還可以用于測量氧化層、抗蝕劑等材料的臺階高度，從而評估材料的性能和選擇合適的材料。

總的來說，澤攸臺階儀是一款先進的表面形貌檢測設備，具有高精度、高分辨率、高穩定性和高靈活性等特點，在半導體行業等領域具有廣泛的應用前景。

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