LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機測試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號測試（LTE（Long Term Evolution，長期演進)是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標準的長期演進，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項并啟動。LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù)，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升。LTE無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化，減小了系統(tǒng)時延，降低了建網(wǎng)成本和維護成本。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。FDD-LTE已成為當前世界上采用的國家及地區(qū)***廣泛的，終端種類***豐富的一種4G標準。）。

  我們公司的LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、測試卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機測試卡采用國際著名半導(dǎo)體廠商生產(chǎn)的專用芯片，3V/5V兼容5-6觸點兼容設(shè)計，適合一切手機.、配以專用COS系統(tǒng)，全面遵從4G手機、3G對手機、2G手機等，我司的測試卡的各項規(guī)范特殊的半導(dǎo)體硅襯，保證卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（GSM標準為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用，采用超長壽命EEPROM，保證讀寫次數(shù)在10萬次以上。（3G標準只要求3萬次，按一般生產(chǎn)線測量要求，每部手機的讀寫次數(shù)為10次，可測一萬部手機。），專利芯片保護層，保證卡片安全，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD），防水（48小時浸泡試驗）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC），耐高溫，45度可正常工作4小時以上。75度溫度沖擊試驗.

我公司產(chǎn)品經(jīng)國家集成電路卡注冊中心授權(quán)使用進口三星、日立、飛利浦等若干芯片[授權(quán)范圍：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx帶觸點IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化學(xué)性、觸點電特性均已通過國家電子計算機質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心及信息產(chǎn)業(yè)部IC卡質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心檢驗合格，具有權(quán)威性的品質(zhì)保證。

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