芯片封裝測試座
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產品品牌ANDK
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更新日期2019-12-23 16:36
品牌： |
ANDK |
所在地： |
廣東 深圳市 |
起訂： |
≥1 件 |
供貨總量： |
1000 件 |
有效期至： |
長期有效 |
PIN： |
4 |
芯片尺寸： |
2.0*1.6 |
測試座類型： |
翻蓋式 |
2.0*1.6-4PIN晶振探針老化座
產品簡介
A、產品用途:老化座、測試座，對2016（2.0*1.6）的IC芯片進行高低溫老化測試
B、適用封裝: 2016（2.0*1.6）-4PIN晶振探針老化座
C、采用雙觸點技術，接觸更穩定、體積小。
D、采用特殊的工程塑膠，強度高、壽命長、阻抗小、彈性好
E、鍍金層加厚，觸點加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結構20000次）
F、我司可提供規格書（布板圖）資料，PDF檔\CAD
規格尺寸
A、型號: 2016（2.0*1.6）-4PIN
B、腳位:4
C、芯片尺寸:2.0*1.6
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